हायर सेकेण्डरी एवं हाई स्कूल परीक्षाओं में नकल पर सख्ती से रोक हो-कलेक्टर
केन्द्र अध्यक्षों की बैठक आयोजित
बैतूल।
कलेक्टर श्री राकेश सिंह ने माध्यमिक शिक्षा मण्डल द्वारा आयोजित होने वाली हाई स्कूल एवं हायर सेकेण्डरी स्कूल परीक्षाओं के सुचारू संचालन के संबंध में शिक्षा विभाग के अधिकारियों को निर्देश दिए हैं। उन्होंने कहा है कि परीक्षाओं में नकल अथवा अनुचित साधनों का प्रयोग न हो, इस बात के लिए विशेष निगरानी रखी जाए। नकल रखने के लिए गठित उडऩदस्ता पूरी मुस्तैदी के साथ परीक्षाओं पर निगरानी रखें। श्री सिंह मंगलवार को परीक्षा कार्य से जुड़े अधिकारियों की बैठक को संबोधित कर रहे थे। बैठक में जिला शिक्षा अधिकारी श्री एलएल सुनारिया सहित परीक्षा के लिए नियुक्त केन्द्राध्यक्ष एवं सहायक केन्द्राध्यक्ष मौजूद थे।
बैठक में कलेक्टर ने कहा कि परीक्षा आयोजन करवाना एक संवेदनशील कार्य है। शिक्षा विभाग के अधिकारी एवं केन्द्र अध्यक्ष इस कार्य की संवेदनशीलता समझें एवं सुचारू व पारदर्शी तरीके से परीक्षा सम्पन्न कराएं। विद्यार्थियों की अनुचित साधनों से संबंधित जांच के दौरान आवश्यक मर्यादा एवं शालीनता सुनिश्चित की जाए। परीक्षा केन्द्रों पर प्राथमिक उपचार की सुविधा उपलब्ध रहे। इस बात का भी ध्यान रखा जाए कि बच्चों की भावनाएं कोमल होती है, वे परीक्षा के दौरान किसी बात को लेकर आहत न हों।
बैठक में जिला शिक्षा अधिकारी ने बताया कि जिले में बोर्ड परीक्षाओं हेतु 130 केन्द्र बनाए गए हैं। हाईस्कूल प्रमाण पत्र परीक्षा में 26724 एवं हायर सेकेण्डरी प्रमाण पत्र परीक्षा में 20108 परीक्षार्थी सम्मिलित होंगे। उन्होंने बताया कि 2 मार्च से हायर सेकेण्डरी एवं 3 मार्च से हाई स्कूल प्रमाण पत्र परीक्षा आरंभ होगी। परीक्षा संबंधी गोपनीय सामग्रियों का वितरण 26 एवं 27 फरवरी को समन्वय संस्था शासकीय उत्कृष्ट विद्यालय बैतूल से किया जाएगा। बैठक में उन्होंने बताया कि परीक्षा के दौरान अनुचित साधनों के प्रयोग को हतोत्साहित करने के लिए सभी विकासखण्डों में उडऩ दस्तों का गठन किया गया है। इसके अलावा पुलिस की सजग निगरानी भी परीक्षा व्यवस्था पर रहेगी।
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